数字VLSI电路低费用低功耗测试技术

书籍简介:

本书稿是湖南省教育厅课题，主要面向超大规模集成电路测试这一实际应用，本书将围绕如何提高集成电路测试压缩技术的压缩效率、降低测试期间的功耗这个科学问题展开深入研究，建立有效的测试结构体系，使得在硬件开销合理的情况下，极大地降低VLSI电路的测试费用和测试功耗。本书第1章介绍了研究背景、意义和国内外研究现状；第2章介绍了集成电路测试相关的概念和技术；第3章至第5章研究测试数据与移位功耗协同降低的测试技术；第6章研究测试压缩环境下的低移位、低捕获功耗测试技术；第8章和第9章研究高效率、低功耗的内建自测试(BIST)技术。

书籍规格:

书籍信息归属:

数字VLSI电路低费用低功耗测试技术是南方出版社于2018.12出版的中图分类号为 TN79 的主题关于 数字电路－电路测试 的书籍。