CMOS图像传感器封装与测试技术

书籍简介:

本书首先介绍整个半导体封装业的历史及演进过程，然后以光感芯片为例说明晶圆厂的芯片制造过程，光感应芯片的应用范围、结构及各种常见的CMOS模块种类等。具体内容涉及了材料使用、设备及各工序简介、缺陷模式及热效应分析、产品可靠性的测试方法，最后阐述了目前CMOS光感测试的最新技术及多样化工序。

书籍规格:

书籍信息归属:

CMOS图像传感器封装与测试技术是电子工业出版社于2006.07出版的中图分类号为 TP212 的主题关于 图象处理－传感器 的书籍。