书籍简介:

本书介绍测试和可测试性设计基本概念。

书籍规格:

书籍详细信息
书名	数字集成电路与嵌入式内核系统可测性设计站内查询相似图书
丛书名	电子与电气工程丛书
	9787111187066 如需购买下载《数字集成电路与嵌入式内核系统可测性设计》pdf扫描版电子书或查询更多相关信息，请直接复制isbn,搜索即可全网搜索该ISBN
出版地	北京	出版单位	机械工业出版社
版次	1版	印次	1
定价(元)	30.0	语种	简体中文
尺寸	26	装帧	平装
页数	201	印数	4000

数字集成电路与嵌入式内核系统可测性设计是机械工业出版社于2006.05出版的中图分类号为 TN431.2 ,TP368 的主题关于数字集成电路－测试－设计 ,微计算机系统－测试－设计的书籍。